納米粒度及Zeta電位儀 HY-Nano1801
1.儀器簡介：
HY-Nano1801系列是浩元儀器在HY-Nano1800基礎上基于多年的科研成果開發的新一代納米粒度及Zeta 電位分析系統，采用動態光散射(DLS)和電泳光散 射(ELS)原理分別進行納米粒度測量和Zeta電位分析，被廣泛應用于有機或無機納米顆粒、乳液、高分子聚合物、膠束、病毒抗體及蛋白質等樣品的顆粒表征及樣品體系穩定性及顆粒團聚傾向性的檢測和分析。
2.產品優勢：
●測試原理
該儀器采用動態光散射原理，其測試方法具有不破壞、不干擾納米顆粒體系原有狀態的特點，從而保證了測試 結果的真實性和有效性；
●高靈敏度和信噪比
探測器采用高性能雪崩二極管(APD), 具有極高的靈敏度和信噪比，從而保證了測試結果的準確度；
●高速數據采集
核心部件采用我公司自主研制數字相關器，它實時完成動態散射光強的采集和自相關函數運算，從而有效地反 映不同大小顆粒的動態光散射信息，為測試結果的準確度奠定基礎；
●穩定的光路系統
采用光纖技術搭建而成的光路系統，使光子相關譜探測系統不僅體積小，而且具有很強的抗干擾能力，從而保 證了測試的穩定性；
●高精度恒溫控制系統
采用半導體溫控技術，溫控精度高達±0.1℃,使樣品在整個測試過程中始終處于恒溫狀態，避免溫度變化而 引起液體黏度及布朗運動速度變化導致的測試偏差，保證測試結果準確度及穩定性。
3.產品技術參數
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規格型號 |
技術參數 |
規格型號 |
技術參數 |
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測量原理 |
動態光散射(DLS)、靜態光散射(SLS)、 電泳光散射(ELS) |
Zeta電位原理 |
相位分析光散射技術 |
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粒徑范圍 |
0.3nm-15μm |
樣品量 |
0.75 mL-1.0 mL |
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準確度 |
優于±1%(平均粒徑，NIST可溯源乳膠標樣) |
Zeta電位測量 范圍 |
無實際限制 |
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重復性 |
優于±1%(平均粒徑，NIST可溯源乳膠標樣) |
樣品最大電導率 |
270mS/cm |
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最小樣品濃度 |
0.1mg/mL |
Zeta測量適用 粒徑范圍 |
2nm-130μm |
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樣品量 |
40μL-1 mL(依賴樣品池選擇) |
電導率范圍 |
0-260 mS/cm |
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測量角度 |
173度和90度(粒度),12度(Zeta電位) |
分子量范圍 |
342 Da-2 x 107 Da |
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溫度控制范圍 |
-15℃-110℃(可120℃選) |
頻率范圍 |
0.2-1.3x10?rad/s |
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冷凝控制 |
干燥氣體吹掃 |
微流變測試 |
均方位移、復數模量、彈性模量、 粘性模量、蠕變柔量 |
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標準激光光源 |
50mW,固體激光器，671 nm |
粘度范圍 |
0.01cp -100cp |
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相關器 |
快、中、慢多模式，最快25 ns采樣， 最多4000通道，1011動態線性范圍 |
電泳遷移率范圍 |
>±20μ.cm/V.s |
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測試時間 |
手動或自動 |
趨勢測試 |
時間和溫度(可自動計算溫度轉變點Tagg) |
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分析算法 |
Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS |
流動模式 |
可連接FFF/GPC/SEC系統，得到至少1.3倍分辨率的粒徑分布結果 |
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操作環境濕度 |
10%-85%相對濕度(無結凝) |
檢測器 |
APD(高性能雪崩光電二極管) |
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沉降法粒徑檢測 |
1μm–50μm |
光強控制 |
0.0001%-100%,手動或者自動 |
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折射率測試 |
折射法原理，0.1%精度，折射率測試范圍1.2-1.6，樣品量380μL |
濃度檢測 |
LEDLS原理,可輸出體積分數、數量濃度 |
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選配件 |
插入式電極、鉑金毛細管電極、高濃度Zeta電位電極 、VV,VH去熒光微量樣品池、pH自動滴定儀 |
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5.適用范圍
生物制藥、納米乳液、涂料、陶瓷、顏料、填料、化工產品、催化劑、鉆井泥漿、磨料、潤滑劑、煤粉、泥沙、粉 塵、細胞、細菌、食品、添加劑、農藥、石墨、感光材料、燃料、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土、水煤漿及其 他納米超細顆粒等行業。
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